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發(fā)掘地下寶藏 | XRF 分析儀在貴金屬勘探中的應用

更新時間：2025-01-06 點擊次數(shù)：1444

隨著全球?qū)F金屬需求的增加，礦業(yè)公司正在尋找更快、更經(jīng)濟的方法來探測和評估這些珍貴資源。繼上期介紹了朗鐸科技為礦業(yè)和礦物加工行業(yè)提供全方位解決方案后，本期我們將深入探討這項便攜技術(shù)如何在貴金屬勘探中實現(xiàn)突破。

場景重現(xiàn)：精準定位貴金屬

貴金屬，如金、銀和鉑族元素(PGE)，通常在地下深處難以觸及的地方蘊藏。傳統(tǒng)的勘探方法不僅耗時而且成本高昂。

然而，通過使用尼通手持 XRF 分析儀，地質(zhì)學家現(xiàn)在可以快速識別含有這些貴金屬的區(qū)域，即使是在濃度極低的情況下。

1、應用實例

在南非布什維爾德雜巖體，包括梅倫斯基礁和上組2礁（UG2），其中賦存了大量的PGE。這些地層主要由輝石巖、斜長巖和變性橄欖巖組成，典型的PGE品位為3-10 g/t。為了研究手持 XRF 分析儀對PGE勘探的應用，沿地層剖面采集了63個樣品。然后由商業(yè)實驗室 (SGS-Lakefield) 使用ICP分析樣品。使用尼通手持 XRF 分析儀對這些樣品進行了兩種形式的分析（直接照射樣品和粉碎樣品-漿料）。

圖1.南非布什維爾德雜巖體中目標元素(Pt、Pd和Au)和探途元素(Cu和Ni)的地層分布表明，使用尼通手持 XRF 分析儀進行的Cu和Ni分析可用于定位Pt、Pd 和 Au礦化帶。

2、結(jié)果

通過實驗室分析發(fā)現(xiàn)探途元素Ni和Cu與目標貴金屬Pt、Pd和Au具有顯著的正相關(guān)性。這表明Ni和Cu可以有效地用作指示貴金屬位置的探途元素。通過使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析儀對這些探途元素進行分析，結(jié)果證實了它們能準確地定位含有高濃度Pt、Pd和Au的地層。